1 结构原理
仪器包括光栅传感器、气浮轴承系统、测控箱、检定夹具、检定软件、工业计算机和打印机。
螺纹测量仪采用计量光栅尺作为长度标准,采用工业计算机进行控制。计算机在用户点击“开始检定”后,会根据用户选择被测螺纹的标准和输入被测螺纹的参数值、检测量程等信息后,向控制箱的微处理器发出相应控制指令;测控箱收到指令后,自动控制微型直流电机精确驱动测针与被测螺纹接触扫描,由光栅测量系统记录接触扫描过程中水平和垂直方向的坐标变化记录,形成检定记录和结论,保存到数据库并供客户进行报告打印。
螺纹测量仪应用图片(8张)
2 测量方法对比
测量方法
| 使用设备
| 优点
| 缺点
|
综合测量法(量规测量法)
| 螺纹量规
| 效率高、便于批量检测
| 只能针对单一公差尺寸测量、无法提供测量的精确数据、人为影响大
|
螺纹的单项测量(量针法)
| 测长机、千分尺
| 三针测量外螺纹中径,精度可达4~8um
| 只能测量单一参数
|
影像法
| 万能工具显微镜
| 单次测量可测出多个参数
| 只能测量外螺纹,且对螺纹表面质量要求高
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激光三角测量法
| 激光干涉仪
| 单次测量可测出多个参数
| 受螺纹表面质量、牙型角、外界环境等因素的影响,且测量仪成本较高
|
三坐标测量仪
| 三坐标
| 单次测量可测出多个参数
| 测量头结构偏大,对小螺纹和内螺纹的测量有局限性,且测量仪成本较高
|
接触扫描式
| 螺纹测量仪
| 单次测量可测出多个参数,测量精度高、速度快、范围广,可测量小螺纹和内螺纹,是最好的螺纹测量方法
| /
|
3 技术参数
外尺寸测量范围mm
| 0~50
| 1.0~90
| 1.0~150
| ||
内尺寸测量范围mm
| 2.5~60
| 2.5~100
| 2.5~160
| ||
最大扫描范围mm
| 25
| 60
| 60
| ||
最小螺距mm
| 0.1
| 0.1
| 0.1
| ||
仪器重量kg
| 180
| 190
| 200
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测量不确定度
| |||||
圆柱螺纹环规或锥型螺纹环规(10 mm以上小径,牙型半角≥27°)
| |||||
小径μm
| 2.0 + L/200
| 3.0 + L/200
| 3.0 + L/200
| ||
实际螺纹中径μm
| 2.0 + L/200
| 3.0 + L/200
| 3.0 + L/200
| ||
螺距μm
| 0.75 + L/200
| 0.75 + L/200
| 0.75 + L/200
| ||
圆柱螺纹环规或锥型螺纹环规(2.5~10 mm小径,牙型半角≥27°)
| |||||
小径μm
| 2.5 + L/200
| 3.0 + L/200
| 3.0 + L/200
| ||
实际螺纹中径μm
| 2.5 + L/200
| 3.0 + L/200
| 3.0 + L/200
| ||
螺距μm
| 0.75 + L/200
| 0.75 + L/200
| 0.75 + L/200
| ||
圆柱螺纹塞规或锥型螺纹塞规(1mm上大径,牙型半角≥27°)
| |||||
大径μm
| 1.5 + L/200
| 2.5 + L/200
| 2.5 + L/200
| ||
实际螺纹中径μm
| 1.5 + L/200
| 2.5 + L/200
| 2.5 + L/200
| ||
螺距μm
| 0.75 + L/200
| 0.75 + L/200
| 0.75 + L/200
| ||
光面圆柱环规或锥型光面规(直径10mm以上)
| |||||
光面环规直径μm
| 0.7 + L/200
| 1.5 + L/200
| 1.5 + L/200
| ||
光面塞规直径μm
| 0.7 + L/200
| 1.5 + L/200
| 1.5 + L/200
| ||
光面圆柱环规或锥型光面规(直径1~10 mm )
| |||||
光面环规直径μm
| 1.5 + L/200
| 2.0 + L/200
| 2.0 + L/200
| ||
光面塞规直径μm
| 1.5 + L/200
| 2.0 + L/200
| 2.0 + L/200
|