1 简介
X射线IC卡检测仪
X射线IC卡检测仪是使用X射线技术对IC卡进行检测的一种设备,它通过发生X射线,对IC卡进行射线照射,再由设备的成像探测器接收经过照射并穿过IC卡后的X射线,并通过计算机呈现黑白的透视检测画面。
专用的X射线IC卡检测仪到2013
年为止业内有HSCreate(恒胜创新)的BJI-G型。
X射线IC卡检测仪用途:检测IC磁卡内部的电路、芯片内部焊点、内部导体结构。 IC卡检测仪参数
型号
| HSCreate BJI-G
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管电压
| 70kV
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管电流
| 0.4mA
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分辨率
| 227Lp/cm
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像元尺寸
| 1628*1228px
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灰度等级
| 4600级
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功率
| 70W
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IC卡扭弯测试仪 IC卡扭矩测试仪 IC卡弯曲测试仪 IC卡弯曲试验机 IC卡试验机 IC卡弯曲性能测试机 IC扭矩测试仪本仪器针对性IC卡在国标16649.1等试验标准中的弯曲、扭矩的试验;外形尺寸:L670 X W380 X H220
本仪器针对性IC卡在国标16649.1等试验标准中的弯曲、扭矩的试验;