数显测厚仪,数显测厚仪原理,介绍,使用说明,特点,技术指标等 - 仪器百科

数显测厚仪

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日期：2020-01-09 浏览：146

0简介

超声波数显测厚仪是采用最新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。

中文名: 数显测厚仪
测量范围: 0.75～300mm(钢中)

声速范围: 1000～9999 m/s
分辨率: 0.1mm

1.超声波数显测厚仪

2.技术参数

3.数显薄膜测厚仪

1超声波数显测厚仪

可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量

超声波数显测厚仪

。

2技术参数

1.显示方法：高对比度的段码液晶显示，高亮度EL背光；

2.测量范围：0.75～300mm(钢中)，公制与英制可选择；

5.示值精度： ±(1%H+0.1)mm H为被测物实际厚度

6.测量周期：单点测量时4次/秒、扫描模式10次/秒；

7.存储容量：可存储20组(每组最多99个测量值)厚度测量数据。

8.工作电压：3V(2节AA尺寸碱性电池串联)

9.持续工作时间：约100小时(不开背光时)

10.外形尺寸：150×74×32 mm 11.整机重量：245g

3数显薄膜测厚仪

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