试验目的是为了提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间，随着半导体可靠性的提高，大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多为了提高试验效率、减少试验时间，采用了最新的压力蒸煮锅试验方法。

　　需最新优化设计,美观大方，做工精细。
　　具备特制的试样架免去繁杂的接线作业。
　　饱和或不饱和的湿度控制。
　　拥有与试样数量相吻合的试样信号施加端子。

　　HAST高度加速老化试验箱内胆采用圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
　　配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架。
　　标准配备8条试验样品信号施加端子，也可以根据需要增加端子数量。
　　具备特制的试样架免去繁杂的接线作业。
　　HAST锅门若未关紧则机器无法启动.
　　当锅内压力超过最大工作值自动排气泄压.
　　当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源.
　　特制材质制成可防止操作人员接触烫伤.
　　手动安全保护排压伐.

型号 ：PCT-250 PCT-350 PCT-450
　　PCT-550 PCT-250 MPCT-350 M
　　
　　控制器：微电脑饱和蒸气温度+时间+压力显示独立控制器
　　
　　分辨率：温度：0.1压力：指针式0.1
　　
　　控制稳定度：温度：±0.5℃，湿度：100%
　　
　　内箱材质：SUS316#不锈钢
　　
　　外箱材质：高级钢板烤漆或不锈钢（依客户选择）
　　
　　尺寸（cm）内箱：Φ25×D35 Φ30×D45 Φ40×D55

Φ50×D60 Φ25×D35 Φ30×D45
　　外箱： W56×H65×D105 W66×H105×D125 W76×H115×D135
　　W860×H135×D145 W56×H65×D105 W66×H105×D125
　　
　　温度范围：110℃～132℃ 110℃～147℃ ;湿度范围100%RH饱和蒸气;
　　
　　压力范围表压力+0.2～2.0kg/cm2表压力+0.2～3.5kg/cm2;
　　
　　加压时间大约45分钟大约55分钟;
　　
　　循环方式水蒸气自然对流循环;