荧光X射线测厚仪编辑

日期:2020-01-09     浏览:209    
0荧光X射线测厚仪简介
荧光X射线测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供准确、快速的分析。
中文名
荧光X射线测厚仪
仪    器
材料涂/镀层测量仪器
应用于
材料的涂/镀层厚度、材料组成
主    机
cmi900/950主机
1荧光X射线测厚仪基本信息
基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLinkFP应用软件包,实现了对cmi900/950主机的全面自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素,数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求。
2荧光X射线测厚仪主要规格规格描述
1X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管,Be窗标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选X射线管功率可编程控制装备有安全防射线光闸
2滤光片程控交换系统根据靶材,标准装备有相应的一次X射线滤光片系统二次X射线滤光片:3个位置程控交换,Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选位置传感器保护装置,防止样品碰创探测器窗口
3准直器程控交换系统最多可同时装配6种规格的准直器,程序交换控制多种规格尺寸准直器任选:-圆形,如4、6、8、12、20mil等-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时,最小测量斑点尺寸为:0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm准直器)在12.7mm聚焦距离时,最大测量斑点尺寸为:0.38x0.42mm(使用0.3mm准直器)
5X射线探测系统封气正比计数器装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路
6样品室CMI900CMI950-样品室结构开槽式样品室开闭式样品室-最大样品台尺寸610mmx610mm300mmx300mm-XY轴程控移动范围标准:152.4x177.8mm任选:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z轴程控移动高度43.18mmXYZ程控时,152.4mmXY轴手动时,269.2mm-XYZ三轴控制方式多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
3荧光X射线测厚仪功能
-样品观察系统高分辨、彩色、实时CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光辅助光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
7计算机系统配置IBM计算机:1.6G奔腾IV处理器,256M内存,1.44M软驱,40G硬盘,CD-ROM,鼠标,键盘,17寸彩显,56K调制解调器。惠普或爱普生彩色喷墨打印机。
8分析应用软件操作系统:Windows2000中文平台中文分析软件包:SmartLinkFP软件包
 
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