编辑1产品简介
加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验
。
2应用范围
HAST老化试验箱广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。
3产品说明
最新优化设计,美观大方，做工精细；
对应IEC60068-2-66条件，具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器；
采用7寸真彩式触摸屏，拥有250组12500段程序，具有USB曲线数据下载功能，RS-485通讯接口；
采用高效真空泵，使箱内达到最佳纯净饱和蒸汽状态；
具有缓降压、排气、排水功能，控制避免试验结束后压力温度的急变，保证试验结果的正确；
多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示；
HAST加速老化试验箱可根据客户产品定制专用产品架；
4规范要求
HAST内胆采用圆弧设计,复合国家安全容器标准,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果；
配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架；
标准配备8条试验样品信号施加端子，也可以根据需要增加端子数量，最多具备55条偏压端子；
具备特制的试样架免去繁杂的接线作业；
