1 设备应用
HAST试验箱试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间,用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验,广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验
。
2 规范要求
1.内胆采用圆弧设计,复合国家安全容器标准,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
2.配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架。
3.HAST试验箱标准配备8条试验样品信号施加端子,也可以根据需要增加端子数量。
4.具备特制的试样架免去繁杂的接线作业。
3 设备特点
1.HAST试验箱最新优化设计,美观大方,做工精细。
2.对应IEC60068-2-66条件,具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器。
3.采用7寸真彩式触摸屏,拥有250组12500段程序,具有USB曲线数据下载功能,RS-485通讯接口.
4.采用高效真空泵,使箱内达到最佳纯净饱和蒸汽状态。
5.具有缓降压、排气、排水功能,控制避免试验结束后压力温度的急变,保证试验结果的正确。
6.多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示。
7.可根据客户产品定制专用产品架.