数显测高仪,数显测高仪原理,介绍,使用说明,特点,技术指标等 - 仪器百科

数显测高仪

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日期：2020-01-09 浏览：230

0简介

数显测高仪是以光栅、容栅或磁栅作为测量元件的立式单坐标数字化几何量计量仪器。

中文名: 数显测高仪
外文名: 暂无

地区: 中国
语言: 中文
分类: 单位

1.概述

2.检定项目

1概述

用来测量平行平面之间距离、孔轴直径、中心距及形位误差等，其结构示意图如图1所示。量程有500 mm, 800 mm和1 000 mm等规格，仪器分为0级、1级和2级。

栅尺

立柱与导轨

测量滑座

触头

底座

图1 数显测高仪结构示意图

2检定项目

1 数显测高仪的受检项目和检定用主要器具见表to

2 检定条件

检定数显测高仪的室内温度:0级为(20士1)'C, 1 级和2级为(20士2)'C; 温度

变化每小时应不超过0.5℃;被检仪器和检定用主要器具在室内平衡温度的时间应不少

于12h。检定室内应避免影响工作的振动等各种干扰。

JJG 929-1995

序号受检项目检定用主要器具

检定类别

新制的修理后使用中

1 外观+ + +

2 各部分相互作用及一般性能+ + +

3 测力分度值攫0.5 N的测力计+ +

4 仪器的垂直度测微仪，00级平板，00级直角尺+ + +

5 重复性量块+ 十+

6 示值误差

00级平板，三等或四等量块(或

双频激光干涉仪)

+ + +

7 抗电干扰能力+ 十十

注:表中“+”表示应检定，“一”表示可不检定。

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