手持式矿石分析仪是一种XRF光谱分析技术，X光管产生的X射线打到被测样品时可以激发样品中对应元素原子的内层电子，并出现壳层空穴，此时原子处于不稳定状态，当外层电子从高轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时，就会产生特征X射线，原子恢复稳态。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。

　　手持式矿石分析仪是一种基于XRF(X Ray Fluorescence,X射线荧光)光谱分析技术的仪器，主要由X光管、探测器、CPU以及存储器组成。手持式仪器中的微型X光管作为激发源，目前高端产品普遍采用50kV高压电源，探测器采用大面积硅漂移探测器。

　　矿石分析仪在地质勘探、矿山测绘、开采、矿石分选、品位鉴定、矿产贸易、金属冶炼以及环境监测等领域有着广泛的应用。
　　分析矿种：
　　涵盖从Mg至U之间的金属、非金属、贵重金属和稀有金属矿等。
　　分析样品：
　　矿体、矿块、矿渣、矿粉、粗矿、精矿、尾矿、土壤、泥土、泥浆、灰尘、粉尘、过滤物、薄膜、废水、废油、液体样品
　　分析元素：
　　可以分析12号元素Mg至92号元素U之间的金属元素、非金属元素、贵金属元素、以及稀有金属元素等，可根据实际需要选择分析元素。
　　勘查
　　多元素现场快速分析，可广泛应用于普查、详查的各个过程，追踪矿化异常，扩展勘查范围。可大大减少送回实验室样品的数量，从而节约运输和分析费用。
　　岩芯检测
　　快速分析岩芯和和其他钻探样品，建立矿山三维图，分析储量，可大大提高钻探现场及时决策效率。
　　开采过程控制
　　矿体边界圈定，矿脉走向判定，对开采过程进行精确管理和控制，对矿石品位进行随时检测。
　　品位控制
　　对精矿、矿渣、矿尾等矿物品位进行精确快速分析，为矿物贸易、加工以及再利用提供价值判断依据。
　　环境分析
　　快速对矿石周围环境、尾矿、粉尘、土壤污染等进行分析与检测，评估矿石环境修复效果。