待测样品的一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。这些核外电子围绕着原子核按不同轨道运转，它们按不同的能量分布在不同的电子壳层，分布在同一壳层的电子具有相同的能量。

当具有高能量的入射（一次）X射线与原子发生碰撞时，会打破（待测样品的）原子结构的稳定性。处于低能量电子壳层（如：K层）的电子更容易被激发而从原子中逐放出来，电子的逐放会导致该电子壳层出现相应的电子空位，这时处于高能量电子壳层的电子（如：L层）会跃迁到该低能量电子壳层来补充相应的电子空位。由于不用电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来，不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量，这一个过程就是我们所说的X射线荧光（XRF）。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量——每种元素的发射强度与样品中的元素含量成正比，通过预先设置好的校正曲线计算出来，可显示其含量。

X荧光光谱测金仪亦称XRF,设备其分析方法，是具有一定能量分辨率的X射线探测器同时探测样品所发出的各种能量特征X射线，探测器输出信号幅度与接收到的X射线能量成正比，利用能谱仪分析探测器输出信号的能量大小及强度，对样品进行定量，定性分析。

1 ) 3秒钟内可对金银饰品进行定性识别,30秒～60秒自动计算出首饰的精确含量

2 ) 对样品无需任何物理和化学处理，即无损检测金银饰品

3 ) 分析范围：能够分析金，铂，银，钯等含量0.3%～99.99%

4) 安全性能指针符合国家标准要求(光线激发源为MO靶X光管)

5) 具有温湿度自动补偿功能

6) 符合最严格的辐射防护标准的同时更具备简易的样品放置和耗材更换模式（采用滑盖设计）

7) 探头指针高，性能好，寿命长；

8) 全新32位软硬件系统，工作可靠，效率高

9) 全球率先将先进的摄像定位技术引入珠宝检测领域。该摄像定位系统除让首饰检测更加直观、X荧光更集中于目标位置外，还可以将首饰被检测到的精确位置的照片对应于检测结果，连同计算报告一起打印出来。

10）集成工业计算机在设备机箱内，无需外接计算机；带门锁电锁，使日常管理更便捷

影响XRF测金仪的检测结果的因素有很多。由于首饰产品的特殊情况，受方法原理的限制，在使用本方法时检测人员应了解和熟悉以下影响结果的因素（这些影响因素在不同情况下将对特征谱线强度的采集产生很大的影响，甚至造成误判）：

a)被测样品与标准物质所含元素组成和含量有较大的差异；

b)被测样品的表面有镀层或经化学处理；

c)测量时间；

d)样品的形状；

e)样品测量的面积；

f)贵金属的含量多少；

XRF测金仪检测出来的结果通常需要全面理解，由于被测的首饰产品不同，使用的仪器不同，检测人员的素质水平不同，对检测结果的接收范围建议在以下范围内选取。随贵金属含量的减少，可接收的范围将增大。测量结果的误差范围为0.1%—3%，也可以根据委托方的协议确定，对结果如有争议，应以GB/T 9288、GB/T 11886和QB/T 1656的分析结果为准。

X荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。 测量样品的最大尺寸要求为直径51mm,高40mm.

仪器类别： 0303040903 /仪器仪表 /成份分析仪器 /荧光光度计

指标信息： 1.发射源是Rh靶X光管，最大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW 2.仪器在真空条件下工作，真空度<13pascals 3.5块分析晶体，可以分析元素周期表F～U之间所有元素，含量范围是ppm～100% 4.分析软件是Philips公司（现为PANalytical）最新版软件，既可作半定量，也可定量分析。精密度：在计算率N=1483870时，RSD=0.08% 稳定性计算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相对误差为0.03%

分析对象主要有各种磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。